Phase Change Materials and Their Application to Nonvolatile Memories

Simone Raoux 1 W. Welnic 2 Daniele Ielmini 3
1 IBM Thomas J. Watson Research Center
2 LSI - UMR 7642 - Laboratoire des Solides Irradiés
3 Politecnico di Milano [Milan]
Keywords : SOLID IMMERSION LENS NEAR-FIELD STRUCTURE INTRINSIC DATA RETENTION ATOMIC-FORCE MICROSCOPY OPTICAL-DATA STORAGE AMORPHOUS TE ALLOYS THIN-FILMS CHALCOGENIDE GLASSES GE2SB2TE5 FILMS CHANGE MEDIA
Type de document :
Article dans une revue
Chemical Reviews, American Chemical Society, 2010, 110 (1), pp.240-267. 〈10.1021/cr900040x〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-polytechnique.archives-ouvertes.fr/hal-01081911
Contributeur : Gaëlle Bruant <>
Soumis le : mercredi 12 novembre 2014 - 10:53:16
Dernière modification le : jeudi 10 mai 2018 - 02:00:43

Identifiants

Collections

X | CEA | X-LSI | DSM-IRAMIS | PARISTECH | CEA-DRF | X-DEP-PHYS

Citation

Simone Raoux, W. Welnic, Daniele Ielmini. Phase Change Materials and Their Application to Nonvolatile Memories. Chemical Reviews, American Chemical Society, 2010, 110 (1), pp.240-267. 〈10.1021/cr900040x〉. 〈hal-01081911〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

177

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD