Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy

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IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS, 2016, 6 (6), pp.1576 - 1580. 〈10.1109/JPHOTOV.2016.2598258〉
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Contributeur : Martin Foldyna <>
Soumis le : lundi 20 novembre 2017 - 16:29:27
Dernière modification le : jeudi 10 mai 2018 - 01:58:33

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Paul Narchi, Romain Cariou, Martin Foldyna, Patricia Prodhomme, Pere Roca I Cabarrocas. Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy. IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS, 2016, 6 (6), pp.1576 - 1580. 〈10.1109/JPHOTOV.2016.2598258〉. 〈hal-01640059〉

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