Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy

Paul Narchi 1 Romain Cariou 1 Martin Foldyna 1 Patricia Prodhomme 2 Pere Roca I Cabarrocas 1
1 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]
2 TOTAL S.A.
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Article dans une revue
IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS, 2016, 6 (6), pp.1576 - 1580. 〈10.1109/JPHOTOV.2016.2598258〉
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https://hal-polytechnique.archives-ouvertes.fr/hal-01640059
Contributeur : Martin Foldyna <>
Soumis le : lundi 20 novembre 2017 - 16:29:27
Dernière modification le : jeudi 7 février 2019 - 16:50:35

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X | LPICM | X-PICM | PARISTECH | UNIV-PARIS-SACLAY | X-DEP-PHYS

Citation

Paul Narchi, Romain Cariou, Martin Foldyna, Patricia Prodhomme, Pere Roca I Cabarrocas. Nanoscale Investigation of Carrier Lifetime on the Cross Section of Epitaxial Silicon Solar Cells Using Kelvin Probe Force Microscopy. IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS, 2016, 6 (6), pp.1576 - 1580. 〈10.1109/JPHOTOV.2016.2598258〉. 〈hal-01640059〉

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